在科技日新月異的今天，各種高精尖的測(cè)量?jī)x器層出不窮，為我們的科研和工業(yè)生產(chǎn)提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。今天，我們要為大家介紹的，正是一款在材料科學(xué)領(lǐng)域備受矚目的“明星"——介質(zhì)損耗測(cè)試儀。這款儀器以其功能和精確的測(cè)量能力，在揭示材料電學(xué)性能的奧秘方面發(fā)揮著不可替代的作用。無論你是材料科學(xué)家、電子工程師，還是對(duì)新技術(shù)充滿好奇的探索者，相信介質(zhì)損耗測(cè)試儀都會(huì)成為你探索未知世界的有力幫手。

儀器簡(jiǎn)介

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過薄膜介質(zhì)損耗儀測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

儀器用途

薄膜介質(zhì)損耗儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

參考標(biāo)準(zhǔn)

u GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；

u ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法。

技術(shù)參數(shù)